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X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀的原理和特點說明

  X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀能在對檢測物體無損傷條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式,清晰、準確、直觀地展示被檢測物體的內(nèi)部結構、組成、材質及缺損狀況。
  X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀的基本原理是依據(jù)輻射在被檢測物體中的減弱和吸收特性。同物質對輻射的吸收本領與物質性質有關。所以,利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強度的X射線或γ射線,在被檢測物體中的衰減規(guī)律及分布情況,就有可能由探測器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細信息,后用計算機信息處理和圖像重建技術,以圖像形式顯示出來。
  X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀四大優(yōu)點:
  1、準確定位,圖像更易識別
  常規(guī)射線檢測技術主要是把三維物體投影到二維平面上,容易造成圖像信息的疊加,如果想要獲得圖像上的信息,沒有經(jīng)驗的話,對目標進行準確定位和定量測量非常困難。工業(yè)CT在對工件進行檢測的時候,能夠給出二維或者三維的圖像,需要測量的目標不會受到周圍細節(jié)特征的遮擋,所得到的圖像非常容易進行識別。從圖像上能直接獲得目標特征的具體空間位置,形狀以及尺寸信息。
  2、密度分辨能力更高
  工業(yè)CT具有突出的密度分辨能力,高質量的CT圖像密度分辨率甚至可達到0.3%,跟常規(guī)無損檢測技術相比,至少要高一個數(shù)量級。
  3、動態(tài)響應范圍高
  采用高性能探測器的工業(yè)CT,探測器的動態(tài)響應范圍可達106以上,遠高于膠片和圖像增強器。
  4、圖像更易于存儲、傳輸、分析和處理
  由于X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀圖像直觀,圖像灰度與工件的材料、幾何結構、組分及密度特性相對應,不僅能得到缺陷的形狀、位置及尺寸等信息,結合密度分析技術,還可以確定缺陷的性質,使長期以來困擾無損檢測人員的缺陷空間定位、深度定量及綜合定性問題有了更直接的解決途徑。
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